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惠瑞捷推出半導(dǎo)體行業(yè)首創(chuàng)可擴(kuò)展測試機(jī)臺(tái)系列 -V93000 Smart Scale平臺(tái),降低新一代 IC 的測試成本

新一代“智能”測試系統(tǒng)和數(shù)字通道卡 專為采用 28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)芯片而設(shè)計(jì)
2011-09-19

 

CUPERTINO, Calif.– 2011 年9月19日——Advantest 集團(tuán)(東京證券交易所:6857;紐約證券交易所:ATE)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測試機(jī)臺(tái)系列,可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和3D 架構(gòu)的芯片。

Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機(jī)臺(tái),與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的V93000 平臺(tái)完全相容。智能測試意味著每個(gè)通道卡具有獨(dú)立的時(shí)鐘域,通過匹配受測器件的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)率要求,實(shí)現(xiàn)全面的測試覆蓋率。配合電源調(diào)制、抖動(dòng)注入和協(xié)議通訊等其他重要特性,系統(tǒng)級(jí)壓力測試如今可在ATE 層執(zhí)行,提高了故障模型覆蓋范圍。

“憑借我們創(chuàng)新的V93000 Smart Scale系列的測試系統(tǒng)和通道卡,惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領(lǐng)先,這些方法提供了定制的解決方案,可以為客戶降低測試成本。”Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng)(SOC) 測試部執(zhí)行副總裁)表示。

四個(gè)等級(jí)的Smart Scale 測試機(jī)臺(tái)(A類、C類、S類和L類)分別有不同的測試頭尺寸,使惠瑞捷可為每個(gè)客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案。

Wagner 補(bǔ)充道:“由于每個(gè)等級(jí)的測試機(jī)臺(tái)彼此完全相容,當(dāng)芯片的產(chǎn)量在設(shè)備生命周期內(nèi)變更時(shí),用戶可快速輕松地把半導(dǎo)體器件從一個(gè)等級(jí)移至另一等級(jí)的Smart Scale機(jī)臺(tái)。目前沒有其他自動(dòng)測試設(shè)備供應(yīng)商有能力生產(chǎn)具有此功能的機(jī)臺(tái)。”

惠瑞捷的獨(dú)特技術(shù)提高了并行測試的能力,并帶來了行業(yè)內(nèi)第一個(gè)針對(duì)晶圓測試的全性能的解決方案,可以滿足高階的片上系統(tǒng)(SOC)器件、系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)器件和晶圓級(jí)芯片尺寸封裝(WLCSPs) 的重要性能的測試需求。

V93000 Smart Scale 測試機(jī)臺(tái)推出同時(shí),惠瑞捷還發(fā)布了三款新的數(shù)字通道卡。

新的Pin Scale 1600 數(shù)字卡和Pin Scale 1600-ME(存儲(chǔ)器仿真)卡為每個(gè)數(shù)字通道提供了行業(yè)最廣泛的能力范圍。除了提供從DC 到每秒1.6 千兆比特(Gbps,早期系列的雙倍速率)的數(shù)據(jù)率范圍,這些卡還達(dá)到了先前通道卡密度的兩倍或四倍。高度集成、小外型封裝的新卡具有惠瑞捷clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和SmartLoop™ 等測試能力,可滿足對(duì)稱高速接口的測試要求。此外,這些卡具有精確DC 能力,并可執(zhí)行高效的多路并行異步測試以及并發(fā)測試。

惠瑞捷的新款Pin Scale 9G 卡使實(shí)速測試具備了經(jīng)濟(jì)性。它Pod將高達(dá)8 Gbps 的數(shù)據(jù)率和與Pin Scale 1600同樣的per pin通用性相結(jié)合,盡量提高通道使用率,并盡量減少閑置資源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的雙向功能,以及單端和差分模式。還可執(zhí)行有向量和無向量測試,滿足絕大多數(shù)測試需要,包括面向設(shè)計(jì)驗(yàn)證的并行I/O 測試,以及大批量生產(chǎn)中的串行物理層(PHY) 測試。

 

關(guān)于Advantest集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷

惠瑞捷制造先進(jìn)的半導(dǎo)體測試系統(tǒng),為全球設(shè)計(jì)驗(yàn)證、特性化和大批量生產(chǎn)測試的領(lǐng)先企業(yè)提供解決方案。惠瑞捷提供用于多種片上系統(tǒng)(SOC) 測試解決方案,還有用于閃存、高速存儲(chǔ)器和多芯片封裝(MCP) DRAM 的存儲(chǔ)器測試等可擴(kuò)展平臺(tái)。惠瑞捷還提供先進(jìn)的分析工具,可加快設(shè)計(jì)調(diào)試和產(chǎn)量提升流程。如需了解有關(guān)Advantest集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的詳細(xì)信息,可訪問www.verigy.com。如需了解有關(guān)Advantest的信息,可訪問www.advantest.com

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