泰克在2013英特爾信息技術峰會(IDF)上展示業界最完整、最靈活的高速串行信號測試解決方案
2013-04-11
中國北京,2013年4月10日–全球示波器市場的領導廠商---泰克公司日前宣布,在4月10日--11日于北京中國國家會議中心舉辦的2013英特爾信息技術峰會(IDF)上展示業界最完整、最靈活的高速串行信號測試解決方案,為高速數據設計人員解決USB 3.0、PCIe Gen3/4、SATA等高速串行信號測試帶來的挑戰,并大幅縮短測試和調試時間。
泰克亞太區市場總監王中元表示:“作為英特爾的長期合作伙伴,泰克多年來一直是IDF的重要參展商之一。我們很高興能在IDF這個平臺上展示泰克公司的最先進、最完整的高速串行信號測試解決方案。”
據悉,Superspeed USB是本屆IDF的重要主題之一。作為USB測試行業的領導者和USB3.0標準組織的唯一測試測量技術貢獻者,泰克將展示其先進、完整的USB3.0測試解決方案和咨詢服務。“一年前你對USB 3.0或許仍停留在概念階段,但現在USB 3.0是真正的來了。”王中元說,“隨著USB 3.0技術不斷地成熟,價格逐步下調,USB 3.0已逐漸占據存儲主流市場,關注度也急速上升。”
眾所周知,泰克為USB測試提供了豐富的驗證、調試以及一致性測試方案,而不像其他測試方案,僅僅支持規范定義的標準測試。TekExpress的USBTX 選件囊括了USB3.0 Tx端所有的必測項目和可選測試項目,DPOJET USB3 選件提供了半自動化的USB3.0 Tx端必測和可選測試項目以及設置庫。同時,泰克方案還可幫助完成USB功率測試,以符合手機充電器標準IEC 62684的技術規格。
此外,泰克公司還將重點展示系統內部數據傳輸標準PCIe的最先進測試解決方案。事實上,泰克在PCIe測試項目上與Intel的合作關系由來已久,早在Intel正式發布業內首個集成PCIe Gen3的服務器處理器E5-2600系列之前,泰克一直在Intel全球的眾多活動(包括Intel信息技術峰會和由PCI-SIG贊助的活動)中,深入參與Intel Xeon處理器E5-2600系列的100多種PCIe Gen3系統和板卡的成功測試。
為高速串行信號測試提供業界最優秀的組合測試系統
對于高速串行信號測試而言,探測系統的探測方法是非常關鍵的。泰克公司作為信號保真度和信號采集中公認的領導者,在不斷創新探測技術的基礎上,發明了一種革命性的新型探測架構,稱為TriMode探測。在對高速串行數據如PCI Express進行測試時,需要測試差模、單端參數,還有共模參數,這些測試通常會耗費很多時間,因為需要重復細致地連接多個差分探頭,然后再把這些探頭移動到下一個測試點,以完成必須的測量任務。
泰克TriMode 三模構架的P7500 系列探頭實現了業內獨一無二的功能,它可以僅僅通過一個按鈕就完成在差分、單端和共模測量之間切換,而不用把探頭移出連接點。P7500系列探頭的TriMode探頭架構繼承了泰克最高帶寬和低DUT負荷的傳統,同時改善了連接能力和價值。同時P7500系列TriMode探頭架構還提供了焊接、手持、夾具化等多種連接能力,為實時示波器提供了最高的探頭保真度。
P7500系列探頭提供了最高20GHz的帶寬,與具備業界最佳信號完整性和定時精確性的DPO/DSA/MSO70000系列示波器將共同組成業界最優秀的示波器測試系統,它們將與其它相關配件、夾具等亮相本屆IDF。
泰克DPO/DSA/MSO70000系列示波器在全4個通道上提供了最高達33GHz的帶寬,雙通道上可實現了最高達100GS/s的實時采樣率,并且可以有效降低芯片組中存在的噪聲,完全滿足電子設計工程師對更準確檢定高速串行數據特性的需求。DPO/DSA/MSO70000系列還配備了為滿足當前計算機行業和通信行業中高速數字設計人員的高級測量需求專門設計的DPOJET 抖動和眼圖分析工具,簡化了發現信號完整性問題和抖動及相關來源的工作。
對于各種超高速接口應用,接收機的測試也變得舉足輕重,因為單純的發射機一致性測試不足以確保整個系統的誤碼率要求。泰克將在本屆IDF展示迄今為止市場上唯一整合了誤碼率分析儀與采樣示波器的解決方案BERTScope BSA系列誤碼率分析儀,最新一代BERTScope BSA提供了高達28.6 Gb/s 的碼型發生、誤碼分析和BER 測試能力,是檢驗PCIe Gen3、SATA、USB 3.0等接收機一致性的首選解決方案,它簡化了根據一致性測試規范進行測試的工作,并完全實現了自動化,使工程師能夠非常簡便地完成一致性測試。除一致性測試外,BERTScope平臺也是調試、驗證和檢定任務的最佳選擇。
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