WaveMaster系列示波器的時間間隔測量精度采用下述公式表示：±((0.06 * 采樣間隔) +(1 ppm的測量間隔))。這一公式反映了數字示波器上時間測量不確定性的兩個主要來源。第二個部分(1 ppm的測量間隔)表示由于示波器時基導致的不確定性。WaveMaster系列示波器采用1 ppm的時基，這是當前精度最高的示波器時基。這個部分影響著較長的時間間隔。例如，如果測量的是1 GHz時鐘(1 ns周期)，那么由于時基導致的不確定性是1 fs。
時間間隔精度的第一個部分(0.06 * 采樣間隔)與示波器的測量內插器和時基短期穩定性有關。在力科示波器中，時基對不確定性的影響非常小。內插器是測量信號越過一定門限值的時間位置的軟件組件。鑒于力科提供了20 GHz的最大采樣率，因此在大多數情況下必需使用內插。在任何一定邊沿上存在三個或三個以下的樣點時，示波器中會自動執行內插。在整個波形上不執行內插。但是，在測量中只內插越過門限周圍的點。為找到越過點，我們使用立方內插，然后線性擬合到內插的數據，如圖1所示。
內插精度取決于許多因素。主要因素是信號的跳變時間、采樣率、垂直噪聲和有效垂直分辨率。圖2是通過使用簡單的模型，利用8位數字化器以20 GS/s采樣率對300 ps邊沿信號的典型計算方式。信號幅度是全標的80%。垂直分辨率和時間分辨率之間的關系是：
Dt = Dv/ dv/dt
其中：
Dt – 時間不確定性
Dv – 幅度不確定性
dv/dt – 跳變沿
對1 l.s.b.(1/256的全標)的垂直不確定性，以及在6個樣點中0.8的全標的跳變沿(300 ps @ 50 ps/樣點)，等效時間不確定性為：
Dt = (1/256) / (0.8/6)
= 0.03個采樣周期
由于采樣周期是50 ps，這一測量的不確定性是1.5 ps。這種時間不確定性適用于任何一項測量。
大多數這類測量不是以孤立方式進行的。多個測量允許用戶研究測得值變化。與所有測量中一樣，在多項測量中，測得值的中間值的不確定性會下降。對高斯分布，測量不確定性會以測量數量的平方根下降。因此，重復測量100次可以使采樣中間值的精度提高10倍。圖3顯示了在700 MHz方波上進行20套period@ level參數測量的結果。每套測量都在包括35,000個周期的采集上執行。這會把指定的不確定性降低到大約16 fs。測量與頻率計數器相關，頻率計數器從同一個軸上繪制曲線。注意，示波器測量很好地位于歸一化后的指標極限內，與計數器測量結果高度一致。注意，圖上的水平標度是每格20 fs。
圖1 測量內插的圖形視圖，顯示怎樣在采樣的波形上確定越過時間(TOC)。
[圖示內容：]
threshold: 門限
1. locate points bracketing threshold: 1. 定位越過門限的點
2. add new “cubicity” interpolated points: 增加新的”立方”內插點
3. estimate TOC “linearity”: 估算TOC“線性度”
使用采樣數據不會把定時測量精度限制在采樣周期中。可以以皮秒級的分辨率在正確采樣的波形上進行定時測量，并支持直到幾十飛秒的中間值統計精度。
圖2 簡單的模型，表明垂直不確定性與定時不確定性的映射關系。
[圖示內容：]
Measurement Threshold: 測量門限
Sample: 樣點
圖3 在20次采集中進行period @ level測量的可重復性。
[圖示內容：]
Accuracy of P@Level For 700 MHz Sqaurewave: 700 MHz方波的P@Level精度
Counter Reading: 計數器讀數
P@Level lower accuracy limit: P@Level精度下限
upper accuracy limit: 精度上限
Acquisition Number: 采集數量
Period (ns): 周期(ns)