第12屆中國國際半導體博覽會暨高峰論壇(簡稱IC China2014)及同期活動將于2014年10月28-30日在上海新國際博覽中心隆重開幕。屆時，勝科納米(蘇州)有限公司（簡稱：勝科納米）將攜帶其最先進的材料分析和失效分析技術亮相本次展會。

勝科納米(蘇州)有限公司成立于2012年8月，位于蘇州工業園區中新生態科技城。公司配備全套高端 材料分析及失效分析設備，包括高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）、 雙束聚焦離子束系統( Dual Beam FIB) 、場發射掃描電子顯微鏡(FESEM) 、飛行時間 二次離子質譜儀 (TOF-SIMS)、X射線光電子能譜儀（XPS/ESCA）等。

去年11月，蘇州勝科攜驅動芯片技術服務亮相2013高工LED展。在談到時下最熱門的智能硬件時，勝科納米的市場總監傅超稱，智能化必須從IC芯片的材料、線路等各個方面進行改進，這也直接推動了芯片方案提供商的市場滲透率。

傅超認為，驅動芯片的材料成分與結構在很大程度上決定了材料的特性，尤其是微觀尺度下，材料表面和界面的成分與結構對材料的特性起著關鍵性作用。而勝科納米擁有多種以表面分析為代表的材料表征手段, 可以實現高靈敏度、高精度、定量或半定量的表面分析，能廣泛應用于研究分析亞微米和納米級的表面缺陷。

傅超稱，“隨著目前半導體相關產業的設計及工藝不斷發展，相關的結構及材料分析將趨向于更高端更精密的分析領域發展。同時第三方分析實驗室在提供單項分析服務的同時，需要不斷增強其提供全方位、全套分析服務及相關設計方案的能力。”

超前思維獨創高技術含量分析手段

勝科納米堅信只有優質的產品和良好的服務才能讓企業可以直面困難和挑戰。當然 ，還需要借助廣大的媒體和宣傳網絡，才能打開更廣大的施展空間。隨著世界經濟的復蘇和國家擴大內需及智能電子差產品引領著人們生活方式的改變，電子生產設備和電子制造行業引來了新的發展機遇，勝科納米必將抓住機遇，再上新的臺階。

勝科納米馬敏稱，公司擁有超前思維且獨創出多項高技術含量的分析手段；對在每一個分析案例中都主動與客戶交流，確保分析結果的準確度；對于每一個案例都實行全程跟蹤并全權負責制。

勝科納米自2012年進入園區以來，已為園區的高科技企業提供優質的分析服務，成功地幫助企業解決多個困擾已久的產品失效、工藝異常等問題，為企業提高產品良率、節約生產成本提供了強大的技術支持。

勝科納米在中國大事記 
2012年8月 勝科納米蘇州公司成立 
2013年3月 勝科納米參展SEMICON China 2013 
2013年5月 勝科納米參展蘇州電路板展 
2013年9月 勝科納米參加“Chinano 2013中國國際納米技術產業發展論壇暨納米技術成果展” 
2013年11月 勝科納米亮相航空無損檢測領域 
2014年2月 勝科納米公司到中科院寧波材料所訪問和交流 
2014年4月 勝科納米（蘇州）受邀在2014年首屆全國納米科技前沿論壇上作專題報告 
2014年5月 勝科納米（蘇州）有限公司參加2014蘇州電路板展 
2014年5月 熱烈慶祝勝科納米（蘇州）有限公司進駐蘇州工業園區納米城二期