(北京,2010年6月7日)——首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司(NASDAQ: VRGY)日前宣布,其第250臺V93000 Port Scale射頻測試系統已經出貨。這一里程碑標志著該系統自2007年推出以來,迅速被集成設備制造商(IDM)、無晶元半導體公司及其外包半導體封裝測試(OSAT)合作伙伴等客戶所采用,在市場上取得了驕人業績。目前市場上的領軍企業紛紛采用該平臺,對2G、3G和4G蜂窩網、藍牙、WLAN、WiMAX 和GPS等各種射頻器件進行測試。
射頻半導體器件是當今眾多消費電子設備的關鍵組件。半導體制造商為縮小封裝體積和降低制造成本,將更多的射頻功能集成到可支持多個通信協議的單個芯片上。這些IC芯片的射頻端口數量增加,射頻帶寬加大,若要實現經濟可靠的批量生產,就需要先進的測試能力,同時還要維持低測試成本。
惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統可提供多達96個射頻端口,并具備了八路并行測試能力,其高效率的多路并行測試能力可實現最佳的數據吞吐量,并將測試成本降至最低。該測試儀具有可擴展性,以及可以根據客戶的具體需求配置所需的能力和定價。它既可以用于測試功率放大器、調諧器和收發器等低集成度器件,也可以用于測試高集成度射頻器件(內含集成混合信號、數字、電源管理以及嵌入式或堆棧式內存等電路)。此外,借助于V93000通用架構,客戶所有的射頻產品和系統芯片產品線均可以使用同一測試平臺進行測試,而無需再針對不同的應用細分市場采用多個測試平臺。
惠瑞捷半導體科技有限公司系統芯片測試解決方案副總裁Hans-Juergen Wagner表示:“我們的Port Scale射頻系統具有可擴展性,這使我們的客戶可以靈活地應用各種程度的射頻器件:高集成度器件、低集成度器件或是其中間器件。這再次證明了V93000平臺無與倫比的能力,可為各種應用提供最經濟有效的解決方案,充分發揮該平臺的作用可為我們的客戶帶來最高的投資回報。”
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惠瑞捷半導體科技有限公司作為業內的領導廠商,致力于為全球知名企業提供用于設計驗證、檢定以及大批量生產測試所需的先進半導體測試系統和解決方案。惠瑞捷提供的可擴展平臺可以為各種系統級芯片(SoC)、閃存和DRAM(包括高速存儲在內的)存儲系統以及多芯片封裝(MCP)提供各種測試解決方案。惠瑞捷先進的分析工具還能幫助客戶縮短設計糾錯以及提升良率的過程。如欲了解有關惠瑞捷公司更詳細的信息,可查詢 <verigy.com">http://www.verigy.com。> www.verigy.com。