| eFuse失效分析與可靠性電路設計 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：3783 K | |
| 標簽： eFuse 可靠性 失效模式 | |
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| 文檔介紹：電編程熔絲（eFuse）基于電子遷移原理，通過熔斷熔絲使其電阻特性發生不可逆改變來實現編程操作。提高可靠性是eFuse系統和電路優化設計的核心目標。從eFuse工作原理以及失效模式分析入手，重點介紹了影響其可靠性的系統原因和主要機理及過程，并在綜合常規電路設計基礎上，結合考慮各種工作模式下和具體模塊中存在的影響可靠性的因素，最后提出了具有針對性的電路設計解決方案。 | |
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